高分子超薄膜拉伸结构演变装置

日期:2024-04-17
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XAFS(全称x射线吸收精细结构),即x射线吸收精细结构光谱,是描述局部结构的有力工具之一。在这种技术中,我们调整x射线能量以匹配所研究元素的内层电子层,然后用它来探测样品,然后监测吸收的x射线数量作为其能量的函数。在足够的精度下,由于局部环境对目标元素的基本吸收概率的影响,光谱表现出很小的振荡。从光谱中,我们还可以得到吸收原子与邻近原子的距离、原子的数目和类型以及吸收元素的氧化态,这些都是确定局部结构的参数。通过选择不同能量的x射线,我们可以获得样品中所有元素的信息。

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